Testing the temperature limits of GaN-based HEMT devices
D. Maier
,
M. Alomari
,
N. Grandjean
,
J.F. Carlin
,
M.A. Di Forte-Poisson
,
C. Dua
,
A. Chuvilin
,
David Troadec
,
Christophe Gaquière
(1)
,
U. Kaiser
,
S.L. Delage
,
E. Kohn
D. Maier
- Fonction : Auteur
M. Alomari
- Fonction : Auteur
N. Grandjean
- Fonction : Auteur
- PersonId : 757994
- ORCID : 0000-0003-3610-981X
J.F. Carlin
- Fonction : Auteur
M.A. Di Forte-Poisson
- Fonction : Auteur
C. Dua
- Fonction : Auteur
A. Chuvilin
- Fonction : Auteur
David Troadec
- Fonction : Auteur
- PersonId : 745527
- IdHAL : david-troadec
- IdRef : 059727403
Christophe Gaquière
- Fonction : Auteur
- PersonId : 746853
- IdHAL : christophe-gaquiere
- ORCID : 0000-0003-3082-2489
- IdRef : 059765615
U. Kaiser
- Fonction : Auteur
S.L. Delage
- Fonction : Auteur
E. Kohn
- Fonction : Auteur