Ewod displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

Ewod displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis

F. Lapierre
  • Fonction : Auteur
G. Piret
  • Fonction : Auteur
N. Verplanck
  • Fonction : Auteur
R. Boukkerroub
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00575731 , version 1 (11-03-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00575731 , version 1

Citer

F. Lapierre, G. Piret, N. Verplanck, V. Thomy, R. Boukkerroub. Ewod displacement on patterned superhydrophobic silicon nanowires surface : lab-on-chip for direct mass spectrometry analysis. 12èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, JNRDM 2009, 2009, Lyon, France. ⟨hal-00575731⟩
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