Continuous-wave scanning terahertz near-field microscope

A versatile cw measurement setup for terahertz near-field reflectometry is proposed. Propagation, coupling, and focusing of wire guided modes are used to achieve a λ/33 resolution while imaging a metal corner deposited on glass. The setup is source and detector independent owing to wave coupling and decoupling with differential phase plates.

Mots clés

near-field scanning microscopy Terahertz and submillimeter equipment near-filed imaging probe Sommerfeld waves

Domaines

Optique / photonique Instrumentations et Détecteurs [physics.ins-det]

Fichier principal

Guillet2010.pdf (168.74 Ko)

Origine	Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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https://hal.science/hal-00565014

Soumis le : mercredi 5 mai 2021-16:36:50

Dernière modification le : mardi 25 juillet 2023-14:58:40

Archivage à long terme le : vendredi 6 août 2021-19:05:36

Dates et versions

hal-00565014 , version 1 (05-05-2021)

Licence

Paternité

Identifiants

HAL Id : hal-00565014 , version 1
DOI : 10.1002/mop.25754

Citer

Jean-Paul Guillet, Laurent Chusseau, R. Adam, T. Grosjean, A. Pénarier, et al.. Continuous-wave scanning terahertz near-field microscope. Microwave and Optical Technology Letters, 2011, 53 (3), pp.580-582. ⟨10.1002/mop.25754⟩. ⟨hal-00565014⟩

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