X-ray diffraction use for nanostructural investigation of wood cellulose deformation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

X-ray diffraction use for nanostructural investigation of wood cellulose deformation

Cédric Montero
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Mécanique de l'Arbre et du Bois
CV
Bruno Clair
Mécanique de l'Arbre et du Bois
CV
Tancrède Almeras
Mécanique de l'Arbre et du Bois
CV
Arie van Der Lee
Institut Européen des membranes

Résumé

An overview is given how X-ray diffraction can be used for the investigation of the deformation of wood cellulose at the nanoscale.

Domaines

Cristallographie Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Iem Aigle  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00525585

Soumis le : mardi 12 octobre 2010-11:23:37

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00525585 , version 1 (12-10-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00525585 , version 1

Citer

Cédric Montero, Bruno Clair, Tancrède Almeras, Arie van Der Lee. X-ray diffraction use for nanostructural investigation of wood cellulose deformation. Experimental and Computational Micro-Characterization techniques in Wood Mechanics, Oct 2010, Hamburg, Germany. ⟨hal-00525585⟩

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