Article Dans Une Revue
Quality and Reliability Engineering International
Année : 2000
Evans Gouno : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00493848
Soumis le : lundi 21 juin 2010-14:26:31
Dernière modification le : lundi 11 mars 2024-14:40:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00493848 , version 1
Citer
Evans Gouno. An inference method for temperature step-stress accelerated life testing. Quality and Reliability Engineering International, 2000, 16, pp.11-18. ⟨hal-00493848⟩
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