Optimal Step-stress test under progressive type I censoring - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Reliability Année : 2004

Optimal Step-stress test under progressive type I censoring

A. Sen
  • Fonction : Auteur
N. Balakrisnan
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00493846 , version 1 (21-06-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00493846 , version 1

Citer

Evans Gouno, A. Sen, N. Balakrisnan. Optimal Step-stress test under progressive type I censoring. IEEE Transactions on Reliability, 2004, 53 (3), pp.388-395. ⟨hal-00493846⟩
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