Infrared emittance spectroscopy: a non destructive tool to probe the texture of porous dielectric material up to 2500 K - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00477584 , version 1 (29-04-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00477584 , version 1

Citer

B. Rousseau, A. Canizares, D. de Sousa Meneses, P. Echegut, M. Di Michiel, et al.. Infrared emittance spectroscopy: a non destructive tool to probe the texture of porous dielectric material up to 2500 K. 4th Int. TRI/Princeton Workshop - Characterization of porous materials: from angstroms to millimeters, Jun 2006, Princeton, United States. pp. ⟨hal-00477584⟩
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