Article Dans Une Revue
Materials Science and Engineering
Année : 2003
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00477192
Soumis le : mercredi 28 avril 2010-13:39:47
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:52:14
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00477192 , version 1
Citer
A. Souifi, P. Brounkov, S. Bernardini, C. Busseret, L. Militaru, et al.. Study of trap centres in silicon nanocrystal memories. Materials Science and Engineering, 2003, pp.B, Volume 102, Issues 1-3, 15 Pages 99-107. ⟨hal-00477192⟩
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