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Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Electron Devices Année : 2009

Experimental investigation of RF noise performance improvement in graded-channel MOSFETs

M. Emam
  • Fonction : Auteur
P. Sakalas
  • Fonction : Auteur
D. Vanhoenacker-Janvier
  • Fonction : Auteur
J.P. Raskin
  • Fonction : Auteur
T.C. Lim
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00469683 , version 1 (02-04-2010)

Identifiants

Citer

M. Emam, P. Sakalas, D. Vanhoenacker-Janvier, J.P. Raskin, T.C. Lim, et al.. Experimental investigation of RF noise performance improvement in graded-channel MOSFETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2009, 56, pp.1516-1522. ⟨10.1109/TED.2009.2021361⟩. ⟨hal-00469683⟩
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