Submicron beam X-ray diffraction of nanoheteroepitaxily grown GaN: Experimental challenges and calibration procedures - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Année : 2010

Submicron beam X-ray diffraction of nanoheteroepitaxily grown GaN: Experimental challenges and calibration procedures

P.L. Bonanno
  • Fonction : Auteur
A. A. Sirenko
  • Fonction : Auteur
Z. H. Cai
  • Fonction : Auteur
W. H. Goh
  • Fonction : Auteur
A. Martinez
  • Fonction : Auteur
A. Ramdane
  • Fonction : Auteur
L. Le Gratiet
  • Fonction : Auteur
T. Moudakir
  • Fonction : Auteur
M. B. Assouar
A. Ougazzaden
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00448884 , version 1 (20-01-2010)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00448884 , version 1

Citer

P.L. Bonanno, S. Gautier, A. A. Sirenko, Z. H. Cai, J. Martin, et al.. Submicron beam X-ray diffraction of nanoheteroepitaxily grown GaN: Experimental challenges and calibration procedures. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2010, 268, pp.320-324. ⟨hal-00448884⟩
60 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More