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Article Dans Une Revue Journal of Electromagnetic Waves and Applications Année : 2009

Thin film materials characterization using TE modes cavity

Jean-Michel Le Floch
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 948749
Fiffamen Houndonougbo
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 919500
Valérie Madrangeas
Dominique Cros
Wei Peng

Domaines

Matériaux
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00411872 , version 1 (31-08-2009)

Identifiants

Citer

Jean-Michel Le Floch, Fiffamen Houndonougbo, Valérie Madrangeas, Dominique Cros, Maryline Guilloux-Viry, et al.. Thin film materials characterization using TE modes cavity. Journal of Electromagnetic Waves and Applications, 2009, 23 (4), pp.549-559. ⟨10.1163/156939309787612293⟩. ⟨hal-00411872⟩
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