Article Dans Une Revue
Journal of Electromagnetic Waves and Applications
Année : 2009
Sandrine Nogues : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00411872
Soumis le : lundi 31 août 2009-09:30:57
Dernière modification le : jeudi 17 octobre 2024-11:46:04
Citer
Jean-Michel Le Floch, Fiffamen Houndonougbo, Valérie Madrangeas, Dominique Cros, Maryline Guilloux-Viry, et al.. Thin film materials characterization using TE modes cavity. Journal of Electromagnetic Waves and Applications, 2009, 23 (4), pp.549-559. ⟨10.1163/156939309787612293⟩. ⟨hal-00411872⟩
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