X-Ray characterization of silicium quantum dots and ZnO nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2009

X-Ray characterization of silicium quantum dots and ZnO nanowires

Nicolas Bruyant
D. Bellet
G. Rey
  • Fonction : Auteur
C. Ternon
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00408928 , version 1 (04-08-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00408928 , version 1

Citer

Nicolas Bruyant, D. Bellet, G. Rey, C. Ternon, F. Delachat, et al.. X-Ray characterization of silicium quantum dots and ZnO nanowires. European Material Research Society (E-MRS) Spring Conference, Symposium on Inorganic and Nanostructured Photovoltaics, Jun 2009, STRASBOURG, France. ⟨hal-00408928⟩

Collections

CNRS
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