Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2008
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401309
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009-18:47:36
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401309 , version 1
Citer
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Philippe Perdu, et al.. Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies. Microelectronics Reliability, 2008, 48, pp.1333-1338. ⟨hal-00401309⟩
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