Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00401309 , version 1 (02-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401309 , version 1

Citer

A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Philippe Perdu, et al.. Effect of physical defect on shmoos in CMOS DSM technologies. Microelectronics Reliability, 2008, 48, pp.1333-1338. ⟨hal-00401309⟩
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