Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2005
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401289
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009-18:14:37
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401289 , version 1
Citer
Mustapha Remmach, A. Pigozzi, Romain Desplats, Philippe Perdu, Dean Lewis, et al.. Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis. Microelectronics Reliability, 2005, 5, pp.1476-1481. ⟨hal-00401289⟩
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