Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00398000
Soumis le : mercredi 24 juin 2009-08:59:33
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:39:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00398000 , version 1
Citer
A. Machouat, G. Haller, V. Goubier, Dean Lewis, Vincent Pouget, et al.. Scan-based ATPG diagnostic and optical techniques combination: A new approach to improve accuracy of defect isolation in functional logic failure. 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), Jul 2008, Singapour, Singapore. pp.1-5. ⟨hal-00398000⟩
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