Chapitre D'ouvrage
Année : 2007
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https://hal.science/hal-00397867
Soumis le : mardi 23 juin 2009-14:47:58
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:16:58
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00397867 , version 1
Citer
Vincent Pouget, Pascal Fouillat, Dean Lewis. Using the SEEM software for SET testing and analysis. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.259-268, 2007. ⟨hal-00397867⟩
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