First evidence of dielectric loss effects with ultra low-k materials and impact on interconnect propagation performance
M. Gallitre
,
B. Blampey
,
B. Fléchet
(1)
,
A. Farcy
(2)
,
V. Arnal
,
C. Bermond
(1)
,
T. Lacrevaz
(1)
,
V. Sbugnera
,
K. Hamioud
,
M. Aimadeddine
(3)
,
H. Chaabouni
,
J. Torres
(4)
M. Gallitre
- Fonction : Auteur
B. Blampey
- Fonction : Auteur
B. Fléchet
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172505
- IdHAL : bernard-flechet
- IdRef : 102939373
V. Arnal
- Fonction : Auteur
C. Bermond
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171824
- IdHAL : cedric-bermond
- IdRef : 204250285
T. Lacrevaz
- Fonction : Auteur
- PersonId : 172496
- IdHAL : thierry-lacrevaz
- ORCID : 0000-0002-6741-3497
- IdRef : 10293908X
V. Sbugnera
- Fonction : Auteur
K. Hamioud
- Fonction : Auteur
H. Chaabouni
- Fonction : Auteur