Low frequency noise in biaxially strained silicon n-MOSFETs with ultrathin gate - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2007

Low frequency noise in biaxially strained silicon n-MOSFETs with ultrathin gate

T. Contaret
B. Touati
  • Fonction : Auteur
F. Bœuf
  • Fonction : Auteur
T. Skotnicki
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00393634 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00393634 , version 1

Citer

T. Contaret, B. Touati, G. Ghibaudo, F. Bœuf, T. Skotnicki. Low frequency noise in biaxially strained silicon n-MOSFETs with ultrathin gate. Solid-State Electronics, 2007, 51 (4), pp.633-637. ⟨hal-00393634⟩
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