Article Dans Une Revue
Solid-State Electronics
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393634
Soumis le : mardi 9 juin 2009-16:08:18
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:27:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393634 , version 1
Citer
T. Contaret, B. Touati, G. Ghibaudo, F. Bœuf, T. Skotnicki. Low frequency noise in biaxially strained silicon n-MOSFETs with ultrathin gate. Solid-State Electronics, 2007, 51 (4), pp.633-637. ⟨hal-00393634⟩
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