Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393386
Soumis le : mardi 9 juin 2009-15:27:02
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:27:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393386 , version 1
Citer
G. Reimbold, J. Mitard, X. Garros, Cédric Leroux, G. Ghibaudo, et al.. Initial and PBTI-induced traps and charges in Hf-based oxides/TiN stacks. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (4-5), pp.660-664. ⟨hal-00393386⟩
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