Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2007
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00393326
Soumis le : mardi 9 juin 2009-15:18:47
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:17:24
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00393326 , version 1
Citer
Cédric Leroux, G. Ghibaudo, G. Reimbold. Accurate determination of flat band voltage in advanced MOS structure. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (4-5), pp.743-747. ⟨hal-00393326⟩
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