Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00392468
Soumis le : lundi 8 juin 2009-10:58:58
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:49:56
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00392468 , version 1
Citer
L. Gerrer, G. Ribes, G. Ghibaudo, J. Jomaah. Impact of Progressive Soft Oxide Breakdown on MOS Parameters: Experiment and Modelling.. 15th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, Berlin, Germany, Jun 2008, Berlin, Germany. ⟨hal-00392468⟩
62
Consultations
0
Téléchargements