Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
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https://hal.science/hal-00392184
Soumis le : vendredi 5 juin 2009-16:28:43
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:17:24
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00392184 , version 1
Citer
E. Batail, S. Monfray, A. Pouydebasque, G. Ghibaudo, T. Skotnicki. Impact of scaling on electrostatics of germanium-channel MOSFET-analytical study.. IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop, Honolulu, USA, Jun 2008, Honolulu, United States. ⟨hal-00392184⟩
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