Coupled Approach for Reliability Study of Fully Self Aligned SiGe:C 250GHz HBTs. - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Coupled Approach for Reliability Study of Fully Self Aligned SiGe:C 250GHz HBTs.

Mame Andallah Diop
  • Fonction : Auteur
N. Revil
  • Fonction : Auteur
M. Marin
  • Fonction : Auteur
F. Monsieur
  • Fonction : Auteur
T. Schwartzmann
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00392171 , version 1 (05-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00392171 , version 1

Citer

Mame Andallah Diop, N. Revil, M. Marin, F. Monsieur, T. Schwartzmann, et al.. Coupled Approach for Reliability Study of Fully Self Aligned SiGe:C 250GHz HBTs.. Integrated Reliability Workshop IRW, Lake Tahoe, USA, Nov 2008, USA, United States. ⟨hal-00392171⟩
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