Communication Dans Un Congrès Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00391881 , version 1 (05-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00391881 , version 1

Citer

J. Coignus, R. Clerc, Cédric Leroux, G. Reimbold, G. Ghibaudo. Analytical Modeling of Tunneling Current through SiO2-HfO2 Stacks in MOS Structures. 15th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, Jun 2008, Berlin, France. ⟨hal-00391881⟩
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