In-situ characterization of iron oxide quantum dots and thin film growth using AFM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00390619 , version 1 (02-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00390619 , version 1

Citer

J. Thery, M. Gordon, T. Baron, C. Dubourdieu, C. Ternon, et al.. In-situ characterization of iron oxide quantum dots and thin film growth using AFM. 2006 MRS Fall Meeting, Nov 2006, Boston, United States. ⟨hal-00390619⟩
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