The photoelectrochemical technique, an innovative tool for assessing the nature of semiconductor phases present in thin oxide films - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

The photoelectrochemical technique, an innovative tool for assessing the nature of semiconductor phases present in thin oxide films

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Matériaux Génie des procédés

Yannick Champion  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00380910

Soumis le : lundi 4 mai 2009-16:33:42

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00380910 , version 1 (04-05-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00380910 , version 1

Citer

Y. Wouters, A. Galerie, J.P. Petit. The photoelectrochemical technique, an innovative tool for assessing the nature of semiconductor phases present in thin oxide films. "International Workshop on Detection, Avoidance, Mechanisms, Modeling and Prediction of SCC Initiation in Water-Cooled Nuclear Reactor Plants", 2008, France. ⟨hal-00380910⟩

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