Article Dans Une Revue
Integrated Ferroelectrics
Année : 2008
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00360338
Soumis le : mercredi 11 février 2009-08:32:04
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:30:28
Citer
C. Blach-Legrand, S. Saitzek, A. da Costa, R. Desfeux, Caroline Soyer, et al.. Comparative analysis for the local piezoelectric properties of ion beam and reactive ion beam etched Pb(Zr,Ti)O-3 thin films. Integrated Ferroelectrics, 2008, 98, pp.230-240. ⟨10.1080/10584580802096614⟩. ⟨hal-00360338⟩
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