Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Résumé
This paper proposes a complete method dedicated to the evaluation of SRAMs sensitivity to single event upsets using ultrashort laser pulses.
Frédéric Darracq : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00359396
Soumis le : vendredi 6 février 2009-17:18:33
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11