A combined FEG-SEM and TEM study of silicon nanodot assembly - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue European Physical Journal: Applied Physics Année : 2008

A combined FEG-SEM and TEM study of silicon nanodot assembly

F. Roussel
  • Fonction : Auteur
V. Cocheteau
  • Fonction : Auteur
B. Caussat
  • Fonction : Auteur
P. Mur
  • Fonction : Auteur
E. Scheid
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00354359 , version 1 (19-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00354359 , version 1

Citer

P. Donnadieu, F. Roussel, V. Cocheteau, B. Caussat, P. Mur, et al.. A combined FEG-SEM and TEM study of silicon nanodot assembly. European Physical Journal: Applied Physics, 2008, 44 (1), pp.11-19. ⟨hal-00354359⟩

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