Application of scanning thermal microscopy for thermal conductivity measurements on meso-porous silicon thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Physics D: Applied Physics Année : 2007

Application of scanning thermal microscopy for thermal conductivity measurements on meso-porous silicon thin films

L. David
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1369632
  • IdRef : 115011919
V. Lyshenko
  • Fonction : Auteur
A. Descamps
  • Fonction : Auteur
T. Nychyporuk
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00350678 , version 1 (07-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00350678 , version 1

Citer

S. Gomes, L. David, V. Lyshenko, A. Descamps, T. Nychyporuk, et al.. Application of scanning thermal microscopy for thermal conductivity measurements on meso-porous silicon thin films. Journal of Physics D: Applied Physics, 2007, 40 (21), pp.6677-6683. ⟨hal-00350678⟩
30 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More