Article Dans Une Revue
Journal of Physics D: Applied Physics
Année : 2007
Laboratoire CETHIL : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00350678
Soumis le : mercredi 7 janvier 2009-14:59:34
Dernière modification le : mercredi 29 mai 2024-09:48:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00350678 , version 1
Citer
S. Gomes, L. David, V. Lyshenko, A. Descamps, T. Nychyporuk, et al.. Application of scanning thermal microscopy for thermal conductivity measurements on meso-porous silicon thin films. Journal of Physics D: Applied Physics, 2007, 40 (21), pp.6677-6683. ⟨hal-00350678⟩
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