Is the tensile test relevant to characterize NiTi shape memory alloy behaviour? - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00344267 , version 1 (04-12-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00344267 , version 1

Citer

Pauline Schlosser, Denis Favier, Hervé Louche, Laurent Orgéas, Yehan Liu. Is the tensile test relevant to characterize NiTi shape memory alloy behaviour?. Int. Conference for Shape Memory and Superelastic Technologies (SMST), Sep 2008, Stresa, Italy. ⟨hal-00344267⟩
145 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More