Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
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https://hal.science/hal-00337246
Soumis le : jeudi 6 novembre 2008-14:57:19
Dernière modification le : jeudi 20 novembre 2025-11:30:33
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00337246 , version 1
Citer
E. Pichonat, J. Kuzmik, S. Bychikhin, D. Pogany, M.A. Di Forte-Poisson, et al.. Temperature analysis of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistors using micro-Raman scaterring spectroscopy and transient interferometric mapping. Proceedings of the first European Microwave Integrated Circuits Conference, Sep 2006, Manchester, United Kingdom. ⟨hal-00337246⟩
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