Different Approaches to Packaging Reliability - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00335551 , version 1 (29-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00335551 , version 1

Citer

Yves Ousten, Laurent Bechou, Frederic Verdier, Yannick Deshayes, Bruno Levrier, et al.. Different Approaches to Packaging Reliability. European Electronics Assembly Reliability Summit, Oct 2008, TALLINN, Estonia. pp.Abstract Yves Ousten Bordeaux. ⟨hal-00335551⟩
89 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More