Different Approaches to Packaging Reliability - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Different Approaches to Packaging Reliability

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Yves Ousten  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00335551

Soumis le : mercredi 29 octobre 2008-18:11:08

Dernière modification le : mardi 10 septembre 2024-09:44:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00335551 , version 1 (29-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00335551 , version 1

Citer

Yves Ousten, Laurent Bechou, Frederic Verdier, Yannick Deshayes, Bruno Levrier, et al.. Different Approaches to Packaging Reliability. European Electronics Assembly Reliability Summit, Oct 2008, TALLINN, Estonia. pp.Abstract Yves Ousten Bordeaux. ⟨hal-00335551⟩

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