MEMS Reliability Challenges in EURELNET - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

MEMS Reliability Challenges in EURELNET

Y. Ousten
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Xavier Chapeleau
  • Fonction : Auteur

Domaines

Electronique

Isabelle Bord  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00334753

Soumis le : lundi 27 octobre 2008-17:11:36

Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00334753 , version 1 (27-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00334753 , version 1

Citer

Y. Ousten, Xavier Chapeleau. MEMS Reliability Challenges in EURELNET. NEXUS Methodology Working group - Reliability and Test in conjunction with CANEUS and MEMUNITY, Nov 2006, Milan, Italy. ⟨hal-00334753⟩

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