Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

Defect detection in multilayer ceramic capacitors

Domaines

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00334736 , version 1 (27-10-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00334736 , version 1

Citer

V. Krieger, W. Wondrak, A. Dehbi, W. Bartel, Y. Ousten, et al.. Defect detection in multilayer ceramic capacitors. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (Issues 9-11), pp.1926-1931. ⟨hal-00334736⟩
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