"The international VAMAS project on X-Ray reflectivity measurements for evaluation of thin films and multilayers. Preliminary results from a second Round-Robin" - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2008

"The international VAMAS project on X-Ray reflectivity measurements for evaluation of thin films and multilayers. Preliminary results from a second Round-Robin"

R.J. Matyi
  • Fonction : Auteur
L.E. Depero
  • Fonction : Auteur
E. Bontempi
  • Fonction : Auteur
P. Colombi
  • Fonction : Auteur
M. Jergel
  • Fonction : Auteur
M. Krumrey
  • Fonction : Auteur
T.A. Lafford
  • Fonction : Auteur
A. Lamperti
  • Fonction : Auteur
M. Meduna
  • Fonction : Auteur
A. van Der Lee
Institut Européen des membranes

Domaines

Chimie

Nathalie Bonneval  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00332996

Soumis le : mercredi 22 octobre 2008-11:10:27

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

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Dates et versions

hal-00332996 , version 1 (22-10-2008)

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Citer

R.J. Matyi, L.E. Depero, E. Bontempi, P. Colombi, M. Jergel, et al.. "The international VAMAS project on X-Ray reflectivity measurements for evaluation of thin films and multilayers. Preliminary results from a second Round-Robin". Thin Solid Films, 2008, 516 (4), pp.7962-7966. ⟨10.1016/j.tsf.2008.04.004⟩. ⟨hal-00332996⟩

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