Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 1994
François Marc : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00326620
Soumis le : vendredi 3 octobre 2008-17:30:14
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00326620 , version 1
Citer
François Marc, Hélène Frémont, Paul Jounet, Yves Danto, Michel Barré. Functionnal localization in integrated circuits by Signal Selective Voltage Contrast in a scanning electron microscope. Microelectronics Reliability, 1994, 24, pp.295-301. ⟨hal-00326620⟩
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