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Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Study of JEDEC B-condition JESD22-B111 Standard for Drop Test Reliability of Chip Scale Packages

Yassine Bentata
  • Fonction : Auteur
Stéphane Forster
  • Fonction : Auteur
K. Y. Goh
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00323417 , version 1 (22-09-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00323417 , version 1

Citer

Yassine Bentata, Stéphane Forster, K. Y. Goh, Hélène Null Fremont. Study of JEDEC B-condition JESD22-B111 Standard for Drop Test Reliability of Chip Scale Packages. IEEE EuroSimE (2008), Apr 2008, Germany. pp.EuroSimE (2008). ⟨hal-00323417⟩
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