Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00323417
Soumis le : lundi 22 septembre 2008-10:35:52
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00323417 , version 1
Citer
Yassine Bentata, Stéphane Forster, K. Y. Goh, Hélène Null Fremont. Study of JEDEC B-condition JESD22-B111 Standard for Drop Test Reliability of Chip Scale Packages. IEEE EuroSimE (2008), Apr 2008, Germany. pp.EuroSimE (2008). ⟨hal-00323417⟩
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