Echantillonnage anisotropique et rendu par points différentiels pour les surfaces implicites - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2004

Echantillonnage anisotropique et rendu par points différentiels pour les surfaces implicites

Abstract

Dans cet article, nous proposons une solution adaptant aux surfaces implicites, le rendu par points différentiels ("differential point rendering") de Kalaiah et Varshney [KV01] originellement développé pour les surfaces paramétriques et les maillages triangulaires. La principale difficulté pour cette adaptation est que les deux étapes du processus d'échantillonnage proposé dans [KV01] s'appuient fortement sur des relations de voisinage entre les échantillons, voisinage qui n'existe pas naturellement pour les surfaces implicites. Pour résoudre ce problème, nous proposons d'étudier les possibilités d'extensions de la technique d'échantillonnage par particules de Witkin et Heckbert [WH94] afin de prendre en compte les directions et les valeurs des courbures principales de la surface implicite. Ainsi, nous présenterons des résultats provenant d'une utilisation de particules ellipsoïdales ainsi que les problèmes inhérents à la nature même de l'ellipsoïde. Puis nous proposerons de nouvelles directions de recherche dans le but de résoudre ces problèmes.

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Dates and versions

hal-00308168 , version 1 (29-07-2008)

Identifiers

  • HAL Id : hal-00308168 , version 1

Cite

Florian Levet, Julien Hadim, Patrick Reuter, Christophe Schlick. Echantillonnage anisotropique et rendu par points différentiels pour les surfaces implicites. j•FIG 2004 - 17ièmes Journées de l'Association Française d'Informatique Graphique, Nov 2004, Poitiers, France. pp.85--94. ⟨hal-00308168⟩
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