Article Dans Une Revue
Crystal Research and Technology
Année : 2007
Hal Cinam : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00303624
Soumis le : mardi 22 juillet 2008-10:33:14
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:50
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00303624 , version 1
Citer
N. Yoshimoto, K. Aosawa, T. Taniswa, K. Omote, J. Ackermann, et al.. Characterization of in-plane structures of vapor deposited thin-films of distyryl-oligothiophenes bygrazing incidence X-ray diffractometry. Crystal Research and Technology, 2007, 12, pp.1228-1231. ⟨hal-00303624⟩
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