Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied Spectroscopy Année : 2008

Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction

A. Kohler
  • Fonction : Auteur
J. Sulé-Suso
  • Fonction : Auteur
M. Tobin
  • Fonction : Auteur
F. Bahrami
  • Fonction : Auteur
Y. Yang
  • Fonction : Auteur
J. Pijanka
  • Fonction : Auteur
P. Dumas
M. Cotte
Van Pittius D.G.
  • Fonction : Auteur
G. Parkes
  • Fonction : Auteur
H. Martens
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00278508 , version 1 (13-05-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00278508 , version 1

Citer

A. Kohler, J. Sulé-Suso, Ganesh Sockalingum, M. Tobin, F. Bahrami, et al.. Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction. Applied Spectroscopy, 2008, 62 (3), pp.259-266. ⟨hal-00278508⟩
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