Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Applied Spectroscopy Année : 2008

Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction

A. Kohler
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J. Sulé-Suso
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Ganesh Sockalingum
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  • PersonId : 1113841
Matrice Extracellulaire et Dynamique Cellulaire - UMR CNRS 7369
M. Tobin
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F. Bahrami
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Y. Yang
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J. Pijanka
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P. Dumas
M. Cotte
Van Pittius D.G.
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G. Parkes
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H. Martens
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Soumis le : mardi 13 mai 2008-11:58:15

Dernière modification le : lundi 22 avril 2024-09:38:04

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Dates et versions

hal-00278508 , version 1 (13-05-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00278508 , version 1

Citer

A. Kohler, J. Sulé-Suso, Ganesh Sockalingum, M. Tobin, F. Bahrami, et al.. Estimating and correcting mie scattering in synchrotron-based microscopy fourier transform infrared spectra by extended multiplicative signal correction. Applied Spectroscopy, 2008, 62 (3), pp.259-266. ⟨hal-00278508⟩

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