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Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Caractérisation de nanofils de Si par sonde atomique tomographique

R. Lardé
J. Houard
E. Cadel
P. Pareige
D. Hourlier
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00243976 , version 1 (07-02-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00243976 , version 1

Citer

R. Lardé, J. Houard, E. Cadel, P. Pareige, D. Hourlier, et al.. Caractérisation de nanofils de Si par sonde atomique tomographique. 10èmes Journées de la Matière Condensée, 2006, Toulouse, France. ⟨hal-00243976⟩
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