Nanofils de Si et sonde atomique tomographique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Nanofils de Si et sonde atomique tomographique

J. Houard
CV
R. Lardé
CV
E. Cadel
P. Pareige
D. Hourlier
D. Stiévenard
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

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https://hal.science/hal-00243974

Soumis le : jeudi 7 février 2008-10:26:52

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00243974 , version 1 (07-02-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00243974 , version 1

Citer

J. Houard, R. Lardé, E. Cadel, P. Pareige, D. Hourlier, et al.. Nanofils de Si et sonde atomique tomographique. Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs, 2006, Villeneuve d'Ascq, France. ⟨hal-00243974⟩

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