Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Chapitre D'ouvrage Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00206315 , version 1 (17-01-2008)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00206315 , version 1

Citer

P. Fouillat, V. Pouget, D. Mcmorrow, F. Darracq, S. Buchner, et al.. Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.121-142, 2007. ⟨hal-00206315⟩
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