Chapitre D'ouvrage
Année : 2007
Pascal Fouillat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00206315
Soumis le : jeudi 17 janvier 2008-09:53:25
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00206315 , version 1
Citer
P. Fouillat, V. Pouget, D. Mcmorrow, F. Darracq, S. Buchner, et al.. Fundamentals of the Pulsed Laser Technique for Single-Event Upset Testing. Radiation Effects on Embedded Systems, Springer, pp.121-142, 2007. ⟨hal-00206315⟩
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